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信息存儲應用技術(shù)
  • 控制磁帶存儲的方法和裝置與流程
    本發(fā)明大體上涉及數(shù)據(jù)存儲領(lǐng)域,并且更具體地,涉及控制磁帶存儲的方法和裝置,所述磁帶存儲具有存儲在由多個卷帶(wrap)組成的磁帶上的多個數(shù)據(jù)段。、通常,諸如硬盤、筆式驅(qū)動器、存儲卡等的各種存儲設備都用于存儲數(shù)字數(shù)據(jù)。此外,對存儲數(shù)字數(shù)據(jù)的需求正在增加,使得磁帶技術(shù)由于相對便宜的價格和長保留...
  • 一種數(shù)據(jù)存儲器的散熱結(jié)構(gòu)的制作方法
    本技術(shù)涉及散熱設備,尤其涉及一種數(shù)據(jù)存儲器的散熱結(jié)構(gòu)。、現(xiàn)有數(shù)據(jù)存儲器通過單風扇負壓吸氣的方式進行散熱,但是通過單風扇散熱時,存在空氣無法到達的散熱死角,容易導致處于散熱死角區(qū)域的芯片宕機,并且單風扇的散熱效率也較為低下,不能充分滿足數(shù)據(jù)存儲器的散熱需求。技術(shù)實現(xiàn)思路、本實用新型提供一種數(shù)...
  • 無需位線預充電即可感測存儲器單元的存儲器裝置的制作方法
    本文中所公開的至少一些實施例大體上涉及存儲器裝置,且更特定來說(但不限于)感測存儲器單元的狀態(tài)而不需要對用于檢測存儲器單元是否已達到閾值的位線或其它存取線進行預充電的存儲器裝置。、存儲器裝置廣泛用于將信息存儲在各種電子裝置(例如計算機、無線通信裝置、相機、數(shù)字顯示器及類似者)中。通過對存儲...
  • 3D單元和陣列結(jié)構(gòu)及工藝的制作方法
    本發(fā)明的示例性實施例總體上涉及存儲器領(lǐng)域,更具體地涉及存儲器單元和陣列結(jié)構(gòu)及相關(guān)工藝。、隨著電子電路的復雜度和密度不斷提高,存儲器的尺寸、復雜度和成本成為重要考慮因素。增加存儲器容量的一種方法是使用三維(d)陣列結(jié)構(gòu)。然而,高性價比的d陣列結(jié)構(gòu)尚未完全實現(xiàn)。技術(shù)實現(xiàn)思路、在各種示例性實施例...
  • 一種數(shù)據(jù)管理存儲設備的制作方法
    本技術(shù)涉及,具體是一種數(shù)據(jù)管理存儲設備。、在技術(shù)飛速演進的背景下,企業(yè)積累的數(shù)據(jù)量急劇上升,單個硬盤的容量已無法滿足日益增長的數(shù)據(jù)存儲需求,為了克服這一難題,公司開始采用數(shù)據(jù)管理存儲設備來集中管理多個硬盤。、公告號cnu的一種數(shù)據(jù)儲存管理柜,具體涉及存儲柜,本實用新型包括存儲柜,所...
  • 一種浮點數(shù)指數(shù)最大值尋找電路及存內(nèi)計算芯片
    本發(fā)明涉及集成電路領(lǐng)域的一種最大值尋找電路,尤其涉及一種浮點數(shù)指數(shù)最大值尋找電路,還涉及一種存內(nèi)計算芯片。、存內(nèi)計算(cim,compute-in-memory)是一種新興的計算架構(gòu),旨在將數(shù)據(jù)存儲和計算過程緊密結(jié)合,從而減少數(shù)據(jù)傳輸延遲,提高計算效率。cim技術(shù)通過將計算操作直接嵌入存儲...
  • 一種固態(tài)硬盤測試裝置的制作方法
    本技術(shù)涉及存儲器測試,特別是涉及一種固態(tài)硬盤測試裝置。、隨著固態(tài)硬盤(solid?state?drive,ssd)的廣泛應用與成本降低,市場需求量大幅提升,因而對固態(tài)硬盤的測試產(chǎn)能提出了更高的要求。然而,現(xiàn)有測試設備通常為單個或裸pcb測試板,只能對單個固態(tài)硬盤進行測試,存在靜電屏蔽能力與...
  • 具有可變位線電容的非易失性存儲器設備及其編程方法與流程
    本公開的實施例涉及一種半導體存儲器設備,并且更具體地,涉及一種具有可變位線電容的非易失性存儲器設備及其編程方法。、半導體存儲器設備可大致分為易失性存儲器和非易失性存儲器。易失性存儲器(例如,動態(tài)隨機存取存儲器(dram)或靜態(tài)隨機存取存儲器(sram))具有快速讀取及寫入速度,但當電力供應...
  • 時鐘放大器電路和包括時鐘放大器電路的存儲器設備的制作方法
    本文描述的本公開的示例實施例涉及一種半導體存儲器設備,并且更具體地,涉及一種時鐘放大器電路和包括該時鐘放大器電路的存儲器設備。、半導體存儲器可以主要被分類為易失性存儲器或非易失性存儲器。易失性存儲器(例如,dram或sram)的讀取和寫入速度快,但是在電力關(guān)閉時,存儲在易失性存儲器中的數(shù)據(jù)...
  • 存儲器裝置、存儲器裝置的字線橋接檢測器和存儲器裝置的字線橋接檢測方法與流程
    本公開涉及存儲器裝置、存儲器裝置的字線橋接檢測器和存儲器裝置的字線橋接檢測方法。、例如,半導體存儲器可被分類為易失性存儲器或非易失性存儲器。通常,當與非易失性存儲器相比時,易失性存儲器(例如,動態(tài)隨機存取存儲器(dram)或靜態(tài)隨機存取存儲器(sram))可展現(xiàn)較快的讀取速度和/或?qū)懭胨俣?..
  • 記憶體電路及其操作方法與流程
    本揭示的實施例是關(guān)于一種偵測數(shù)據(jù)模式(data?pattern)記憶體電路及其操作方法,特別是關(guān)于一種偵測數(shù)據(jù)模式的記憶體電路及其操作方法。、記憶體裝置為電子系統(tǒng)的集成組件,以允許快速存取及修改的方式儲存數(shù)據(jù)。傳統(tǒng)上,記憶體裝置已設計為在大量記憶體單元中以“”及“”的形式儲存二進制信息。歸...
  • 執(zhí)行訓練的存儲控制器及其操作方法與流程
    本公開的一個或多個示例實施例涉及一種存儲控制器,并且更具體地,涉及一種對各種時鐘和數(shù)據(jù)執(zhí)行訓練的存儲控制器以及一種操作該存儲控制器的方法。、存儲控制器或包括存儲控制器的片上系統(tǒng)(soc)可以經(jīng)由高速接口與存儲設備通信。例如,soc可以包括其中集成有電子系統(tǒng)的多個組件或多個知識產(chǎn)權(quán)(ip)的...
  • 優(yōu)化傳輸電壓的方法與流程
    本發(fā)明實施例涉及一種優(yōu)化傳輸電壓的方法。、在快閃存儲器中,當對數(shù)據(jù)進行編程時,電子蓄積于浮置柵極中,存儲器單元的閾值電壓會向正方向偏移;當對數(shù)據(jù)進行抹除時,自浮置柵極釋放電子,存儲器單元的閾值電壓向負方向偏移。此種編程及抹除控制成使存儲器單元的閾值進入“”、“”的分布寬度內(nèi)。在存儲器單元存...
  • 存儲裝置的修復方法及修復系統(tǒng)與流程
    本申請實施例涉及存儲,特別是涉及一種存儲裝置的修復方法,以及一種存儲裝置的修復系統(tǒng)。、動態(tài)隨機存儲器(dynamic?random?access?memory,dram)芯片作為一種存儲裝置,憑借結(jié)構(gòu)簡單、集成度高以及功耗低等優(yōu)勢,現(xiàn)已廣泛應用于手機、電腦、服務器等設備,在消費電子領(lǐng)域發(fā)揮...
  • 一種存儲芯片測試裝置的制作方法
    本技術(shù)涉及芯片測試,具體涉及一種存儲芯片測試裝置。、存儲芯片在測試分級時,需搭配托盤裝置進行測試。托盤裝置包含閃存芯片、控制器芯片、電源及周邊電路等,還包含bga測試座、測試接口。傳統(tǒng)的測試分兩種,一種是手動測試,其優(yōu)點是小尺寸,信號質(zhì)量穩(wěn)定,準確度高,維修方便,成本低,缺點是不適合自動化...
  • 閃存顆粒的早期失效測試方法、控制器和存儲介質(zhì)與流程
    本申請涉及芯片測試,特別涉及一種閃存顆粒的早期失效測試方法、控制器和存儲介質(zhì)。、在相關(guān)技術(shù)中,電子產(chǎn)品在投入使用初期,都具有故障率較高的問題,即使是nandflash(nand型閃存)也不例外,但是在使用一段時間后,故障率就會迅速下降,漸趨穩(wěn)定。閃存顆粒出現(xiàn)該問題是由于nand?flash...
  • 閃存顆粒測試方法、系統(tǒng)、計算機設備及其存儲介質(zhì)與流程
    本申請涉及數(shù)據(jù)測試,特別涉及一種閃存顆粒測試方法、系統(tǒng)、計算機設備及其存儲介質(zhì)。、在相關(guān)技術(shù)中,目前利用fpga(field?programmable?gate?array,現(xiàn)場可編程門陣列)?作為閃存控制器,使用發(fā)熱片或者具有加熱功能的socket(套接字)來實現(xiàn)溫度控制,但測試數(shù)量不足...
  • 帶有升壓電路的相變存儲器的制作方法
    本發(fā)明涉及集成電路領(lǐng)域,尤其涉及一種帶有升壓電路的相變存儲器。、通常,在pcm(phase?change?memory,相變存儲器)的寫操作過程中,需要比較高的并且穩(wěn)定的字線電壓和位線電壓,從而確保wl(wordline,字線)和bl(bit?line,位線)對pcm的存儲陣列進行寫操作的...
  • 非易失性存儲器及其數(shù)據(jù)擦除方法與流程
    本申請涉及半導體,更具體地,涉及一種非易失性存儲器以及一種非易失性存儲器的數(shù)據(jù)擦除方法。、近來,具有“垂直”(即,以三維(d))堆疊的存儲單元的非易失性存儲器被廣泛使用于電子設備中,其通常包括垂直堆疊的多個層級(例如,通過多堆疊工藝形成的非易失性存儲器中的頂部層級、中部層級和底部層級),層...
  • 一種存儲系統(tǒng)的數(shù)字延遲鏈和使用其調(diào)整時鐘時序的方法與流程
    本發(fā)明總體上涉及一種存儲系統(tǒng)。更具體地,本發(fā)明涉及一種數(shù)字延遲鏈,其通過使用存儲系統(tǒng)的雙邊沿觸發(fā)時鐘計數(shù)器進行具有低延遲和寬輸出頻率范圍的動態(tài)延遲移位。、對于需要集成多種標準并滿足向后兼容性要求的內(nèi)存子系統(tǒng),工作時鐘頻率范圍可以從數(shù)百mhz到數(shù)ghz。利用基于傳統(tǒng)延遲單元的延遲鏈設計,延遲...
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