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信息存儲應用技術
  • 用于減少半導體測試中錯誤日志所需空間的系統(tǒng)和方法與流程
    本發(fā)明涉及用于易失性和非易失性存儲器的動態(tài)重構半導體測試器的設備、系統(tǒng)和方法,尤其涉及減少半導體測試中錯誤日志所需空間的系統(tǒng)和方法。、計算機系統(tǒng)利用易失性和非易失性存儲器來存儲和檢索數據。易失性存儲器是有利的,因為相比于傳統(tǒng)的硬盤驅動器(hard?disk?drive,hdd)或固態(tài)驅動器...
  • 硬盤巡檢方法及電子設備與流程
    本發(fā)明涉及固態(tài)硬盤,特別是涉及一種硬盤巡檢方法及電子設備。、隨著ssd(solid?state?drive,固態(tài)硬盤)的應用普及和技術不斷發(fā)展,對其數據存儲的讀寫性能表現和穩(wěn)定性水準的要求也愈發(fā)嚴苛。在固態(tài)硬盤將數據寫入nand?flash顆粒后,受nand?flash顆粒固有物理特性所限...
  • 服務器和液冷硬盤框的制作方法
    本申請涉及服務器,尤其涉及一種服務器和液冷硬盤框。、服務器因其緊湊性和高密度部署被廣泛采用。、相關技術中,通過調整硬盤布局以提升部署密度,例如采用側邊散熱設計縮小硬盤間距。然而,這種設計雖能增加硬盤部署密度,卻因側邊散熱通道狹窄導致散熱效率顯著降低,影響設備穩(wěn)定性和壽命。也有采用垂直堆疊多...
  • 相變存儲器升壓電路的制作方法
    本發(fā)明涉及集成電路領域,尤其涉及一種相變存儲器升壓電路。、通常,在pcm(phase?change?memory,相變存儲器)的寫操作過程中,需要比較高的并且穩(wěn)定的字線電壓和位線電壓,從而確保wl(wordline,字線)和bl(bit?line,位線)對pcm的存儲陣列進行寫操作的準確性...
  • 對RDT測試結果的數據分析方法及其系統(tǒng)、設備、介質與流程
    本申請涉及測試數據分析,尤其是一種對rdt測試結果的數據分析方法及其系統(tǒng)、設備、介質。、在固態(tài)硬盤(solid?state?drive,ssd)的生產流程中,產線上的每一片ssd都會經過可靠性驗證試驗(reliability?validation?testing,rdt)測試,目的是把fl...
  • 存儲器裝置的恢復模式的制作方法
    本公開大體涉及存儲器裝置、存儲器裝置操作以及例如存儲器裝置的恢復模式。、例如nand存儲器裝置的非易失性存儲器裝置可使用電路系統(tǒng)來即使在沒有供應電源時也實現數據的電編程、擦除及存儲。非易失性存儲器裝置可用在各種類型的電子裝置中,例如計算機、移動電話或汽車計算系統(tǒng)及其它實例。、非易失性存儲器...
  • 一種SSD測試方法、系統(tǒng)、裝置、設備及存儲介質與流程
    本申請涉及固態(tài)硬盤測試,尤其涉及一種ssd測試方法、系統(tǒng)、裝置、設備及存儲介質。、在固態(tài)硬盤(ssd)的性能測試中,通常會通過部署測試環(huán)境鏡像來建立一個標準化的測試環(huán)境,以保證測試條件的一致性。在這樣的環(huán)境中,測試流程一般按照預先設定的腳本來執(zhí)行,該腳本中包含了針對不同測試項的一系列固定的...
  • 一種異步存儲電路及電子設備的制作方法
    本申請涉及半導體集成電路,尤其涉及一種異步存儲電路及電子設備。、在集成電路設計領域,雙端口靜態(tài)隨機存取存儲器(dual-port?sram)因其允許兩個端口獨立并發(fā)地進行讀寫操作的能力,在高性能計算、網絡通信以及多核處理器緩存等需要高帶寬數據訪問的場景中扮演著至關重要的角色。、目前,傳統(tǒng)的...
  • 控制電路、存儲器系統(tǒng)、芯片及電子設備的制作方法
    本申請涉及存儲,具體涉及一種控制電路、存儲器系統(tǒng)、芯片及電子設備。、目前微控制單元(microcontroller?unit,mcu)可以內置嵌入式flash即閃存,用于存儲mcu的代碼和數據等。不同的產品對存儲容量的要求不同,因此,可以使用不同規(guī)格的flash?ip。、但是,對于大容量的...
  • 一種內置RRAM微控制器的篩選測試方法及系統(tǒng)與流程
    本發(fā)明屬于芯片篩選測試,具體涉及了一種內置rram微控制器的篩選測試方法及系統(tǒng)。、阻變存儲器(rram)是一種新型的非易失性存儲器,具有運行速度快、功耗低,集成度高的特點,基于阻變結構,阻變存儲器可以通過施加不同的電壓改變電阻值,其阻值狀態(tài)分為高阻值狀態(tài)(hrs,high?resistan...
  • 存儲器設備以及用于存儲器設備的測試方法與流程
    本公開涉及存儲器設備及用于存儲器設備的測試方法。、半導體存儲器設備通過半導體制造過程生成,并且然后由測試設備在晶片、管芯或封裝狀態(tài)下進行測試。通過測試,可以識別有缺陷的存儲器設備,并且當一些存儲器單元有缺陷時,可以執(zhí)行修復操作以修復存儲器設備。隨著微處理的進行,在諸如動態(tài)隨機訪問存儲器(d...
  • 存儲裝置、電子設備和控制存儲裝置的方法與流程
    本公開涉及存儲裝置、電子設備和存儲裝置控制方法。、由于使用磁阻元件作為存儲元件的磁阻隨機存取存儲器(mram)保持具有鐵磁材料的磁化狀態(tài)的狀態(tài),所以mram具有非易失性,其中,即使當電源關斷時也保持所記錄的數據。磁阻元件的基本結構是在由磁性薄膜構成的兩個磁性層之間夾持絕緣體的非磁性薄膜的夾...
  • 用于雙軌存儲器的輸出驅動器電平移位鎖存電路的制作方法
    本公開大體上涉及一種提供兩個電壓軌電平(例如,兩個電源軌)的集成電路中的雙電源存儲器。更特定來說,本發(fā)明涉及一種用于雙軌存儲器的輸出驅動器電路。、在雙軌(或雙電源)存儲器設計中,存儲器接口及位單元在系統(tǒng)單芯片(soc)處在高電源電平(vdda)下操作,而soc上的其余電路系統(tǒng)在較低電壓電平...
  • 閃存存儲芯片測試設備的制作方法
    本技術涉及閃存存儲芯片測試設備,具體涉及閃存存儲芯片測試設備。、閃存存儲芯片是一種非易失性存儲芯片,即使斷電也能保持數據存儲,可以在較小的物理空間內存儲大量數據,數據的讀取和寫入速度相對較快,其體積小、重量輕,便于集成到各種電子設備中。、在閃存芯片生產時為保證質量,需要對芯片的各項性能進行...
  • 用于晶圓測試的主板組件以及測試板系統(tǒng)的制作方法
    本發(fā)明的領域涉及存儲器測試系統(tǒng)。、背景描述包括對理解本發(fā)明可能有用的信息。不承認本文提供的任何信息是現有技術或與目前要求保護的發(fā)明相關,或者不承認明確或隱含引用的任何出版物是現有技術。、多年來,dram和快閃存儲器技術已經是眾所周知的。隨著時間的推移,基本的底層技術大體保持不變,而界面隨時...
  • 一種具有加密功能的錄音筆的制作方法
    本技術涉及錄音筆的,具體是一種具有加密功能的錄音筆。、錄音筆一共分為兩代,第一代為數碼錄音筆,第二代為智能錄音筆。智能錄音筆是基于人工智能技術,集高清錄音、錄音轉文字、同聲傳譯、云端存儲等功能為一體的智能硬件,是ai落地應用場景的代表性產品。與第一代數碼錄音筆相比,新一代的智能錄音筆的特點...
  • 用于熱輔助磁記錄的光斑尺寸轉換器的輔助芯的制作方法
    本公開的實施方案整體涉及用于磁介質驅動器的磁記錄頭。相關技術描述計算機的功能和能力的核心是存儲數據和將數據寫入到數據存儲設備諸如磁介質驅動器(例如硬盤驅動器(hdd))。計算機所處理的數據量在迅速增加。需要磁記錄介質的更高記錄密度來提高計算機的功能和能力。為了實現磁記錄介質的更高記錄密度(諸如超過...
  • 智能降噪模式切換方法及系統(tǒng)與流程
    本發(fā)明涉及降噪,尤其是一種智能降噪模式切換方法及系統(tǒng)。、在當前眾多涉及音頻處理的設備與系統(tǒng)中,降噪功能已成為提升用戶體驗的關鍵因素。然而,降噪參數多為靜態(tài)設置這一現狀,引發(fā)了一系列亟待解決的問題,嚴重制約了降噪效果的優(yōu)化與用戶體驗的提升。、不同的場景有著截然不同的聲學環(huán)境特點。在安靜的圖書...
  • 一種可遠程傳輸控制的外置光驅設備的制作方法
    本技術涉及一種可遠程傳輸控制的外置光驅設備,屬于光驅設備。、光驅是電腦中用于讀寫光碟內容的設備,常見于臺式機和便攜式電腦。光驅主要用于讀取光盤中的音頻、視頻、文件,或將音頻、視頻、文件刻錄到光盤中,它可以播放音頻或視頻光盤、安裝軟件和存儲大量數據。、但是,隨著數字化時代的到來,許多軟件、資...
  • 解碼方法與存儲裝置與流程
    本申請涉及存儲器控制領域,具體涉及一種解碼方法與存儲裝置。、隨著半導體存儲技術的快速發(fā)展,存儲裝置(如nand閃存、ssd等)的存儲密度持續(xù)提升,存儲器模塊中實體單元的尺寸不斷縮小。然而,存儲單元物理特性的限制(如電荷泄漏、讀寫干擾等)以及高密度存儲環(huán)境下的信號串擾問題,導致數據讀取過程中...
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