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信息存儲應(yīng)用技術(shù)
  • 存儲裝置的制作方法
    本文描述的實施例總體上涉及存儲裝置。、已經(jīng)提出了一種存儲裝置,其中多個存儲器單元集成在半導(dǎo)體襯底上,每個存儲器單元包括可變電阻存儲器元件和諸如選擇器的開關(guān)元件。技術(shù)實現(xiàn)思路、實施例提供了一種能夠準(zhǔn)確地讀取存儲在存儲器單元中的數(shù)據(jù)的存儲裝置。、總體上,根據(jù)實施例,存儲裝置包括:第一線,在第一...
  • 存儲器系統(tǒng)的制作方法
    本發(fā)明的實施方式涉及一種存儲器系統(tǒng)。、作為存儲器系統(tǒng),已知有具備存儲器控制器及存儲器裝置之ssd(solid?statedrive,固態(tài)硬盤)。存儲器裝置例如為非易失性存儲器。非易失性存儲器例如為nand型閃速存儲器。技術(shù)實現(xiàn)思路、一實施方式謀求提升存儲器系統(tǒng)的性能并改善其壽命。、實施方式...
  • 存儲器設(shè)備中的連續(xù)時間線性均衡器優(yōu)化的制作方法
    、本公開總體涉及用于優(yōu)化存儲器設(shè)備中的連續(xù)時間線性均衡器(continuoustime?linear?equalizer,ctle)的裝置和方法。、數(shù)據(jù)信號可以通過存儲器設(shè)備中的通道從發(fā)射器傳送到接收器。通道可能會引入諸如衰減、反射、通道損耗和噪聲等損害,導(dǎo)致信號失真,從而可能引發(fā)傳輸錯誤...
  • 存儲裝置測試方法與存儲裝置測試系統(tǒng)與流程
    本發(fā)明涉及一種存儲裝置測試技術(shù),尤其涉及一種存儲裝置測試方法與存儲裝置測試系統(tǒng)。、隨著nand閃存技術(shù)的飛速發(fā)展,存儲裝置的容量和復(fù)雜度持續(xù)提升,對其可靠性、壽命及穩(wěn)定性的測試提出了前所未有的挑戰(zhàn)。目前,老化測試中普遍采用固定流程和參數(shù)的方法,傳統(tǒng)的測試方案通常為特定型號的存儲裝置預(yù)設(shè)固定...
  • 存儲器管理方法及存儲器控制器與流程
    本公開涉及存儲,尤其涉及一種用于管理弱塊及壞字線的存儲器管理方法及存儲器控制器。、隨著半導(dǎo)體技術(shù)的快速發(fā)展,nand閃存的制程節(jié)點持續(xù)微縮,從早期的數(shù)十納米逐步演進(jìn)至如今的x納米甚至更低。這一趨勢雖然提升了存儲密度并降低了成本,但也帶來了諸多可靠性挑戰(zhàn)。特別是在d?nand堆疊層數(shù)越來越高...
  • 一種抗總劑量效應(yīng)存儲單元和半導(dǎo)體存儲器的制作方法
    本申請涉及存儲器設(shè)計,且特別涉及一種抗總劑量效應(yīng)存儲單元和半導(dǎo)體存儲器。、天然空間輻射環(huán)境中的粒子會對工作在其中的半導(dǎo)體器件產(chǎn)生電離損傷,進(jìn)而誘發(fā)電離輻射效應(yīng)。總劑量效應(yīng)(主要是電子和質(zhì)子)是輻射效應(yīng)中主要的效應(yīng)之一??倓┝啃?yīng)指的是電路或器件持續(xù)工作于輻射環(huán)境下而產(chǎn)生性能退化的輻射累積效...
  • 用于存儲存儲器元數(shù)據(jù)的設(shè)備、系統(tǒng)及方法與流程
    本公開大體上涉及半導(dǎo)體裝置,且更明確來說,涉及半導(dǎo)體存儲器裝置。特定來說,本公開涉及存儲器,例如動態(tài)隨機(jī)存取存儲器(dram)。、信息可存儲于可組織成陣列的行(字線)及列(位線)的存儲器單元中。各種類型的信息可存儲于陣列中,例如數(shù)據(jù)、錯誤校正碼(ecc)數(shù)據(jù)及元數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)可為由外部裝置(例...
  • 一種用于超低壓快速讀寫的14T-SRAM存儲單元的制作方法
    本申請涉及存儲器集成電路,尤其是涉及一種用于超低壓快速讀寫的t-sram存儲單元。、存儲器在超大規(guī)模集成電路設(shè)計中占據(jù)著舉足輕重的地位。sram(靜態(tài)隨機(jī)存取存儲器)作為存儲芯片的重要一類,雖然在存儲容量上不及dram和nand?flash,但憑借其高速讀寫和低功耗的顯著特點,在特定市場中...
  • 用于硬盤驅(qū)動器存儲系統(tǒng)的模塊化架構(gòu)的制作方法
    本發(fā)明的各實施方案可整體涉及數(shù)據(jù)存儲,并且具體地涉及高密度且靈活的硬盤驅(qū)動器存儲平臺。、硬盤驅(qū)動器(hdd)是非易失性存儲設(shè)備,其容納在保護(hù)殼體中并將數(shù)字編碼數(shù)據(jù)存儲在具有磁性表面的一個或多個圓形磁盤上。當(dāng)hdd在操作中時,由主軸系統(tǒng)快速旋轉(zhuǎn)每個磁記錄磁盤。使用由致動器定位在磁盤的特定位置...
  • 用于檢測存儲器器件中未選擇子塊狀態(tài)的技術(shù)的制作方法
    、.、本公開整體涉及存儲器器件,并且更具體地涉及用于檢測非易失性存儲器器件的存儲器塊中的子塊是處于已編程狀況還是處于已擦除狀況的改進(jìn)技術(shù)。、.相關(guān)技術(shù)、半導(dǎo)體存儲器廣泛用于各種電子設(shè)備,諸如蜂窩式電話、數(shù)碼相機(jī)、個人數(shù)字助理、醫(yī)療電子設(shè)備、移動計算設(shè)備、服務(wù)器、固態(tài)硬盤、非移動計算...
  • 存儲器器件、存儲器器件的測試方法和存儲器器件的制造方法與流程
    實施方式涉及一種存儲器器件、存儲器器件的測試方法及存儲器器件的制造方法。、已知有包括作為存儲器器件的nand閃存、及控制存儲器器件的存儲器控制器在內(nèi)的存儲器系統(tǒng)。存儲器器件包括多個核心芯片及接口芯片。多個核心芯片各自非易失地存儲數(shù)據(jù)。接口芯片負(fù)責(zé)存儲器控制器與多個核心芯片之間的通信。技術(shù)實...
  • 存儲器系統(tǒng)及半導(dǎo)體存儲器的寫入方法與流程
    本發(fā)明的實施方式涉及存儲器系統(tǒng)及半導(dǎo)體存儲器的寫入方法。、例如通過包含nand型閃存的半導(dǎo)體存儲器、以及控制半導(dǎo)體存儲器的存儲器控制器構(gòu)成存儲器系統(tǒng)。技術(shù)實現(xiàn)思路、提供能夠提高數(shù)據(jù)的寫入以及讀出中的可靠性的存儲器系統(tǒng)。、實施方式的存儲器系統(tǒng)具備包含連接有多個存儲單元的多個字線的半導(dǎo)體存儲器...
  • 一種同時抗總劑量與單粒子效應(yīng)的存儲單元和半導(dǎo)體存儲器的制作方法
    本申請涉及存儲器設(shè)計,且特別涉及一種同時抗總劑量與單粒子效應(yīng)的存儲單元和半導(dǎo)體存儲器。、天然空間輻射環(huán)境中的粒子會對工作在其中的半導(dǎo)體器件產(chǎn)生電離損傷,進(jìn)而誘發(fā)電離輻射效應(yīng),具體包括總劑量效應(yīng)(主要是電子和質(zhì)子)和單粒子效應(yīng)。、總劑量效應(yīng)指的是電路或器件持續(xù)工作于輻射環(huán)境下而產(chǎn)生性能退化的...
  • 一種存儲器及其存儲單元信息讀取電路的制作方法
    本發(fā)明涉及電子電路,具體涉及一種存儲器及其存儲單元信息讀取電路。、隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,智能化產(chǎn)品種類也越來越豐富。智能化產(chǎn)品需要用到更多的復(fù)雜芯片,芯片功能涉及復(fù)雜信號的采集、存儲、處理及生成控制信號等。其中,針對芯片中的存儲器的存儲單元信息準(zhǔn)確而快速讀取,則是保證智能化產(chǎn)品性能的重要技術(shù)...
  • 一種基于憶阻器的矩陣向量乘法中橋接故障的監(jiān)測方法
    本發(fā)明涉及集成電路測試與存內(nèi)計算,特別涉及一種用于憶阻器交叉陣列的故障監(jiān)測方法及系統(tǒng),具體是一種在執(zhí)行矩陣向量乘法運算時,對陣列中存在的橋接故障進(jìn)行在線、監(jiān)測與定位的方法。、隨著人工智能、大數(shù)據(jù)處理等領(lǐng)域的飛速發(fā)展,對計算硬件能效的要求日益提高。基于憶阻器的存內(nèi)計算架構(gòu),通過直接在存儲單元...
  • 存儲器件以及電子設(shè)備的制作方法
    本申請涉及半導(dǎo)體,特別涉及一種存儲器件以及電子設(shè)備。、半導(dǎo)體存儲器被分類為諸如靜態(tài)隨機(jī)存取存儲器(sram,static?random?accessmemory)或動態(tài)隨機(jī)存取存儲器(dram,dynamic?random?access?memory)的易失性存儲器和諸如閃存、相變ram(...
  • 一種具有防摔保護(hù)結(jié)構(gòu)的移動存儲裝置的制作方法
    本技術(shù)涉及移動存儲裝置,尤其涉及一種具有防摔保護(hù)結(jié)構(gòu)的移動存儲裝置。、移動存儲裝置(如u盤、移動固態(tài)硬盤等)因其便攜性和大容量存儲特性,廣泛應(yīng)用于數(shù)據(jù)傳輸和存儲。然而,由于使用場景復(fù)雜,此類設(shè)備常因跌落、碰撞或振動導(dǎo)致內(nèi)部元件損壞、數(shù)據(jù)丟失或接口斷裂,嚴(yán)重影響使用壽命和數(shù)據(jù)安全目前,、市場...
  • 一種Nand顆粒測試方法、電子設(shè)備和測試系統(tǒng)與流程
    本文涉及但不限于存儲,尤指一種nand顆粒測試方法、電子設(shè)備和測試系統(tǒng)。、nand閃存已廣泛應(yīng)用于固體硬盤ssd、嵌入式多媒體卡emmc、通用閃存存儲ufs等存儲設(shè)備中。隨著三層單元模式tlc、四層單元模式qlc等高密度顆粒成為主流,其可靠性問題(如比特翻轉(zhuǎn)、讀寫延遲增加、數(shù)據(jù)保持能力下降...
  • 存儲器件的制作方法
    本申請涉及半導(dǎo)體,特別涉及一種存儲器件。、半導(dǎo)體存儲器被分類為諸如靜態(tài)隨機(jī)存取存儲器(sram,static?random?accessmemory)或動態(tài)隨機(jī)存取存儲器(dram,dynamic?random?access?memory)的易失性存儲器和諸如閃存、相變ram(pram,p...
  • 一種數(shù)據(jù)保護(hù)裝置的制作方法
    本技術(shù)涉及數(shù)據(jù)保護(hù),具體為一種數(shù)據(jù)保護(hù)裝置。、數(shù)據(jù)硬盤等數(shù)據(jù)存儲零件是存儲數(shù)據(jù)的重要載體,如直播設(shè)備中,硬盤用于采集視頻和音頻信號,在直播過程中,視頻和音頻數(shù)據(jù)量龐大,需要足夠的存儲空間來保存,硬盤可以對直播設(shè)備采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行備份,直播過程中可能會出現(xiàn)各種意外情況,如網(wǎng)絡(luò)中斷、設(shè)備故障等,...
技術(shù)分類