本申請涉及集成電路設(shè)計(jì),特別涉及一種標(biāo)準(zhǔn)單元庫的構(gòu)建方法及構(gòu)建系統(tǒng)、可讀存儲介質(zhì)。、標(biāo)準(zhǔn)單元庫作為芯片后端設(shè)計(jì)的基礎(chǔ)部分,本領(lǐng)域技術(shù)人員可以通過調(diào)用和優(yōu)化該標(biāo)準(zhǔn)單元庫中的單元,實(shí)現(xiàn)芯片物理設(shè)計(jì)的自動邏輯綜合與版圖布局布線,縮短設(shè)計(jì)周期,由此極大地提高集成電路芯片的設(shè)計(jì)效率,加快產(chǎn)品進(jìn)入市場...